книга DipMaster-Shop.RU
поиск
карта
почта
Главная На заказ Готовые работы Способы оплаты Партнерство Контакты F.A.Q. Поиск
ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНО-СТАТИСТИЧЕСКОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ И ОПТИМИЗАЦИЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ 2004-8 ( Контрольная работа, 8 стр. )
ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНО-СТАТИСТИЧЕСКОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ И ОПТИМИЗАЦИЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ 2004-10 ( Контрольная работа, 10 стр. )
ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНО-СТАТИСТИЧЕСКОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ И ОПТИМИЗАЦИЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ 2004-7 ( Контрольная работа, 7 стр. )
ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНО-СТАТИСТИЧЕСКОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ И ОПТИМИЗАЦИЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ 2007-11 ( Контрольная работа, 11 стр. )
ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНО-СТАТИСТИЧЕСКОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ И ОПТИМИЗАЦИЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ 2006-8 ( Контрольная работа, 8 стр. )
ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНО-СТАТИСТИЧЕСКОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ И ОПТИМИЗАЦИЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ ( Контрольная работа, 8 стр. )
ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНО-СТАТИСТИЧЕСКОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ И ОПТИМИЗАЦИЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ 2004-8 ( Контрольная работа, 8 стр. )
ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНО-СТАТИСТИЧЕСКОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ И ОПТИМИЗАЦИЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ 2007-7 ( Контрольная работа, 7 стр. )
ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНО-СТАТИСТИЧЕСКОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ И ОПТИМИЗАЦИЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ 2004-12 ( Контрольная работа, 12 стр. )
ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНО-СТАТИСТИЧЕСКОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ И ОПТИМИЗАЦИЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ ( Контрольная работа, 8 стр. )
Электроника и электротехника - вариант 90 ( Контрольная работа, 17 стр. )

Исходные данные для проектирования.

2. Технология изготовления схемы.

3. Топология и разрез транзисторов.

3. Расчет параметров элементов схемы.

5. Расчет с помощью программы P-Spice.

6. Топология всей схемы.

7. Сравнение с аналогами, выпускаемыми промыш-ленностью.

Используемая литература.

Исходные данные для проектирования.

Вариант № 90.

Схема И-НЕ на n-МОП транзисторах.

Минимальный размер 3 мкм.

Толщина окисла - 100 нм.

1. Принцип работы схемы.

Таблица истинности для элемента И-НЕ

Вх1 Вх2 Вых

0

0 1

0 1 1

1 0 1

1 1 0

Для логических схем на n-МОП транзисторах уровень логического нуля приблизительно равен нулю, а уровень логической единицы ? меньше чем Eпит. Сток и затвор верхнего нагрузочного транзистора подключены к питанию, поэто-му всегда выполняется неравенство

,

следовательно нагрузочный транзистор всегда открыт и работает в пологой области как нелинейный резистор.

Если хотя бы на один активный транзистор подано напряжение логического нуля, то он оказывается заперт, в следствии чего выход отключается от земли и на нем устанавливается напряжение логической единицы. При этом будет меньше Eпит из-за влияния нагрузочного транзистора:

.

Если на оба активных транзистора подано напряжение логической единицы, то выход оказывается подключенным к земле, а нагрузочный транзистор имеет большое сопротивление. В этом случае на выходе получается уровень логическо-го нуля порядка 0,1- 0,3В.

2. Технология изготовления схемы.

Технологический процесс для n-канального МОП-прибора с металлическим затвором будет следующим:

1. Получение исходной подложки р-типа со структурой (100) ( ).

2. Выращивание толстого защитного слоя окисла.

3. Фотолитография для вскрытия областей истока и стока n+-типа.

4. n+-диффузия

1. У. Тилл, Дж. Лаксон. Интегральные схемы. Материалы, приборы, изготовле-ние. М. 1985.

2. Валиев К.А., Кармазинский А.Н., Королев М.Р. Цифровые схемы на МДП-транзисторах. М. 1971.

Примечаний нет.

2000-2024 © Copyright «DipMaster-Shop.ru»