книга DipMaster-Shop.RU
поиск
карта
почта
Главная На заказ Готовые работы Способы оплаты Партнерство Контакты F.A.Q. Поиск
Автоматическая система управления процессом передвижения пассажирского лифта ( Курсовая работа, 49 стр. )
Автоматическая система управления процессом испытаний электропривода лифтов ( Дипломная работа, 66 стр. )
Анализ установившихся и переходных режимов в линейных элекрических цепях ( Курсовая работа, 34 стр. )
Анализ установившихся и переходных режимов в линейных электрических цепях ( Курсовая работа, 44 стр. )
Анализ установившихся и переходных процессов в линейных электрических цепях ( Курсовая работа, 33 стр. )
Анализ установившихся и переходных режимов в линейных электрических цепях ( Курсовая работа, 40 стр. )
Анализ установившихся и переходных режимов в линейных электрических цепях ( Курсовая работа, 34 стр. )
Восьмиканальное микропроцессорное устройство измерения и стабилизации температуры ( Дипломная работа, 41 стр. )
Двухкоординатный планшет на линейном индуктосине ( Дипломная работа, 100 стр. )
Дневник прохождения производственной практики на предприятии ООО "ЮУДО" ( Дневник практики, 16 стр. )
Зеркальная антенна ( Курсовая работа, 28 стр. )
Измерительные трансформаторы тока и напряжения, автотрансформаторы; их конструкция и область применения ( Контрольная работа, 13 стр. )
Изучение пьезодвигателей ( Реферат, 15 стр. )
Имитатор АТС для проверки телефонного аппарата ( Дипломная работа, 65 стр. )
Классификация и общие технические требования к АСПС………9 ( Курсовая работа, 33 стр. )
Классификация и общие технические требования к АСПС………9 2010-33 ( Курсовая работа, 33 стр. )
КУРСОВАЯ РАБОТА на тему "РАСЧЕТ ХАРАКТЕРИСТИК КМОП ТРАНЗИСТРОРА" по дисциплине "Электроника" Вариант 73 ( Реферат, 16 стр. )
Курсовая работа по дисциплине "Электроника и электротехника" Вариант № 17 ( Реферат, 16 стр. )
КУРСОВАЯ РАБОТА По дисциплине "Схемотехника ЭВМ" по теме: Генератор треугольного напряжения на операционном усилителе ( Контрольная работа, 12 стр. )
Методы и средства контроля качества в приборостроении» по теме: «ЭХО-ТОЛЩИНОМЕР» ( Курсовая работа, 17 стр. )
Методы и средства контроля качества в приборостроении» по теме: «ТЕНЕВОЙ ДЕФЕКТОСКОП» Вариант 2в ( Курсовая работа, 19 стр. )
Методы и средства контроля качества в приборостроении» по теме: «Эхо – импульсный дефектоскоп» Вариант 3а ( Курсовая работа, 17 стр. )
Микропроцессорный контроллер компенсатор реактивной мощности ( Дипломная работа, 117 стр. )
Модернизация главных двигателей мощностью 440 кВт с целью повышения их технико-экономических показателей ( Дипломная работа, 126 стр. )
Определение всех токов, показаний вольтметра и амперметра электромагнитной системы. в-12 ( Контрольная работа, 6 стр. )

Введение 8

1 Аналитический обзор литературы 9

1.1 Физические основы полупроводниковых приборов 9

1.1.1 Полупроводниковые материалы 9

1.1.2 Электронно-дырочный переход 13

1.1.3 Барьерная (зарядная) и диффузионная емкость p-n-перехода 19

1.2 Изменение параметров полупроводниковых материалов при облучении, создающем точечные дефекты 19

1.2.1 Изменение концентрации основных носителей заряда в кремнии n-типа при облучении 19

1.2.2 Влияние облучения на концентрацию свободных носителей в кремнии p-типа 25

1.2.3 Влияние облучения на подвижность свободных носителей заряда в кремнии 25

1.2.4. Влияние облучения на время жизни неравновесных носителей заряда 28

1.3 Процессы при электронном облучении 31

1.3.1 Краткая характеристика взаимодействия излучения с веществом 31

1.3.2 Взаимодействие электронов с веществом 32

1.3.3 Первичные эффекты при облучении полупроводников 34

1.4 Влияние проникающей радиации на свойства p-n-перехода 39

1.5 Физическая природа и механизмы возникновения радиационных дефектов в кремнии 43

1.5.1 Распределение дефектов при различных видах облучения 43

1.5.2 Структурные комплексы в кремнии, образующиеся с участием вакансий 44

1.5.3 Структурные преобразования в облученном кремнии с участием междоузельных атомов 47

1.5.4 Проявление примеси 48

1.5.5 Аннигиляция вакансий и междоузолий и отжиг радиационных дефектов 48

1.6 Основные параметры исследуемых варикапов 49

1.6.1 Влияние облучения на удельное электросопротивление 50

1.7.1 Влияние облучения на время жизни неосновных носителей заряда 51

2 Экспериментальная часть 53

2.1 Основные параметры исследуемых варикапов 53

2.2 Описание объекта исследования 53

2.3 Линейный ускоритель электронов "Электроника" ЭЛУ-6 54

2.4 Измеритель параметров полупроводниковых приборов ИППП-1 59

2.5 Экспериментальные результаты и их анализ 63

2.6 Математическая модель 72

2.7 Выводы по экспериментальному разделу 73

3 Безопасность жизнедеятельности 74

3.1 Идентификация опасных и вредных производственных факторов 74

3.2 Характеристика используемых веществ и материалов 75

3.3 Санитарно-технические требования 75

3.3.1 Требования к планировке помещения 75

3.3.2 Требования к микроклимату помещения 76

3.3.3 Требования к освещению лаборатории 77

3.3.4 Требования безопасности при устройстве и эксплуатации коммуникаций 79

3.4 Разработка мер защиты от опасных и вредных производственных факторов 80

3.5 Безопасность жизнедеятельности в чрезвычайных ситуациях 81

3.6 Расчёт защиты от ионизирующего излучения 83

3.7 Выводы по безопасности жизнедеятельности 86

4 Охрана окружающей среды 88

4.1 Экологическая оценка компьютера, как объекта загрязнения окружающей природной среды 88

4.2 Выводы по охране окружающей природной среды 90

5 Экономическая часть 91

5.1 Технико-экономическое обоснование дипломной работы 91

5.2 Расчет сметы затрат на выполнение НИР 92

5.2.1 Расчет основной и дополнительной заработной платы исполнителей 92

5.2.2 Расчет затрат на сырье, материалы и полуфабрикаты 93

5.2.3 Расчет энергетических затрат 94

5.2.4 Расчет затрат, связанных с использованием оборудования и приборов 96

5.2.5 Расчет накладных расходов 97

5.2.6 Расчет суммарных затрат на выполнение работы 97

5.3 Технико-экономическая оценка результатов работы 97

5.4 Выводы по экономической части 98

Выводы 100

Список использованных источников 101

Проникающая радиация в настоящее время широко используется в различных областях науки и техники. Длительные полеты космических аппаратов, работа оборудования в радиационных полях ядерных установок (атомные электростанции, подводные и надводные корабли с ядерными реакторами), необходимость контроля и управления современной измерительной техникой предъявляют серьезные требования к радиоэлектронной аппаратуре, используемой на указанных объектах. Еще более жесткие требования возникают при конструировании ракетных комплексов стратегического назначения, которые должны преодолевать противоракетную оборону потенциального противника, основанную на использовании ядерного оружия. Наиболее уязвимыми составляющими аппаратуры к воздействию проникающей радиации являются изделия полупроводниковой электроники, без которой немыслимо создание современных радиоэлектронных средств обеспечения работоспособности указанной техники. Поэтому вопросы, связанные с воздействием радиации на полупроводниковые материалы являются весьма актуальными.

Широкое использование лучевых и радиационных процессов в производстве современной элементной базы микро- и оптоэлектроники обусловлено высокой эффективностью комплексного управления основными электрофизическими характеристиками и эксплуатационными параметрами полупроводниковых приборных структур в условиях, когда традиционные технологии практически неприемлемы (например, после завершения технологического цикла их изготовления). При этом удается исправить параметрический брак, увеличить быстродействие приборных транзисторных, тиристорных и диодных структур, повысить пробивные напряжения р-n переходов, увеличить выход годных приборов.

Радиационная технология позволяет повысить радиационную стойкость элементной базы микроэлектроники благодаря снижению скорости введения радиационных центров при повторном облучении.

1. Ладыгин Е.А. Действие проникающей радиации на изделия электронной техники. - М.: Советское радио, 1980.

2. Ладыгин Е.А., Лагов П.Б., Мурашев В.Н. Физические процессы в полупроводниках при облучении быстрыми частицами. Теория и расчет. - М.: МИСиС, 2001.

3. Вавилов В.С., Киселёв В.Ф., Мукашев Б.Н. Дефекты в кремнии и на его поверхности. - М.: Наука, 1990.

4. Степаненко И.П. Основы микроэлектроники. - М.: Лаборатория базовых знаний, 2003.

5. Ладыгин Е.А., Паничкин А.В. Основы радиационной технологии в микроэлектронике.

6. http://www.pcb.spb.ru/.

7. ГОСТ 12.0.003-74. Система стандартов безопасности труда. Опасные и вредные производственные факторы. Классификация. - Переизд. Авг. 2004 с изм. 1. - М.: Издательство стандартов, 2004.

8. ГОСТ 12.0.003-74. Система стандартов безопасности труда. Опасные и вредные производственные факторы. Классификация" (введен Постановлением Госстандарта СССР от 18.11.1974 N 2551) (ред. от 01.10.1978)

9. СП 2.2.1.1312-03. Гигиенические требования к проектированию вновь строящихся и реконструируемых промышленных предприятий. - Госсанэпиднадзор Минздрава России. - М., 2003.

10. СанПин 2.2.4.548 - 96 Физические факторы производственной среды гигиенические требования к микроклимату производственных помещений. - Госсанэпиднадзор Минздрава России.- М., 2003.

11. СНиП 23-05-95 Естественное и искусственное освещение. - Госсанэпиднадзор Минздрава России. - М., 2003.

12. СанПиН 2.2.4.548-96. 2.2.4. Физические факторы производственной среды. Гигиенические требования к микроклимату производственных помещений. Санитарные правила и нормы

13. Федеральный закон Российской Федерации от 22 июля 2008 г. N 123-ФЗ "Технический регламент о требованиях пожарной безопасности". Опубликовано 1 августа 2008 г. Вступил в силу: 1 мая 2009 г.

14. СП 12.13130.2009 "Определение категорий помещений, зданий и наружных установок по взрывопожарной и пожарной опасности", 2009.

15. СП 2.6.1.758-99. Гигиенические нормативы "Нормы радиационной безопасности (НРБ-99)". - Госкомсанэпиднадзор России. - М., 1999.

16. ГОСТ Р 50948-2001 Средства отображения информации индивидуального пользования. Общие эргономические требования и требования безопасности. - М.: Издательство стандартов, 2004.

17. ГОСТ Р 50949-2001 Средства отображения информации индивидуального пользования. Методы измерений и оценки эргономических параметров и параметров безопасности. - М.: Издательство стандартов, 2004.

18. СанПиН 2.2.2/2.4.1340-03 Гигиенические требования к персональным электронно-вычислительным машинам и организации работы. ? Госсанэпидемнадзор Минздрава России.- М.: 2003.

19. Фёдоров Л.А., Вихрова Н.О. Экономические и организационные вопросы в дипломных работах. Учебно-методическое пособие. - Издательство МИСиС, 2006.

20. Фёдоров Л.А., Голубцов В.В. Экономика и организация производства. Учебное пособие. - Издательство МИСиС, 2006.

21. Фёдоров Л.А., Вихрова Н.О. Управление производством. Лабораторный практикум. - Издательство МИСиС, 2005.

22. Определение экономической эффективности научно-исследовательских и опытно-конструкторских работ. - М.: ГИРЕДМЕТ, 1996.

23. Юзов О.В., Седых А.М., Щепилов Ф.И. Разработка экономических и организационных вопросов при курсовом и дипломном проектировании. Учебно-методическое пособие. - Издательство МИСиС, 2004.

Примечаний нет.

2000-2024 © Copyright «DipMaster-Shop.ru»