книга DipMaster-Shop.RU
поиск
карта
почта
Главная На заказ Готовые работы Способы оплаты Партнерство Контакты F.A.Q. Поиск
Термическое (вакуумное) напыление ( Контрольная работа, 18 стр. )
Технологическая карта изготовления детали "вал" ( Контрольная работа, 6 стр. )
Технологические процессы автотранспортной отрасли ( Контрольная работа, 8 стр. )
Технологическое проектирование столовой общего типа на 120 мест с организацией работы овощного цеха (Украина) ( Курсовая работа, 35 стр. )
Технология бурения скважины ( Отчет по практике, 62 стр. )
Технология изготовления одежды ( Контрольная работа, 14 стр. )
Технология обогащения полезных ископаемых (курсовая работа) ( Курсовая работа, 33 стр. )
Технология обогащения полезных ископаемых ( Контрольная работа, 29 стр. )
Технология производства торта Ананасовый ( Контрольная работа, 25 стр. )
Технология производства торта ( Контрольная работа, 25 стр. )
Технология производства ферментного комплекса "Стерилаза". Расчет ультрафильтрационного аппарата для концентрирования. (Украина) ( Курсовая работа, 66 стр. )
Технология работы почтового отделения УФПС ( Дипломная работа, 77 стр. )
Тиски слесарные ( Контрольная работа, 26 стр. )
Торгово-технологическое оборудование ( Контрольная работа, 20 стр. )
ТЭК Системы технологий нефтедобывающей и нефтеперерабатывающей отраслей ( Контрольная работа, 19 стр. )
Учитель технологии ( Контрольная работа, 9 стр. )
Характеристика предприятия общественного питания ( Курсовая работа, 40 стр. )
Шумоподавление ( Контрольная работа, 27 стр. )
Экскурсия в центральный научно-исследовательский автомобильный и автомоторный институт (НАМИ) ( Отчет по практике, 14 стр. )
ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНО-СТАТИСТИЧЕСКОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ И ОПТИМИЗАЦИЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ 2004-9 ( Контрольная работа, 9 стр. )
ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНО-СТАТИСТИЧЕСКОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ И ОПТИМИЗАЦИЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ 2004-7 ( Контрольная работа, 7 стр. )
ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНО-СТАТИСТИЧЕСКОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ И ОПТИМИЗАЦИЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ ( Контрольная работа, 8 стр. )
ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНО-СТАТИСТИЧЕСКОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ И ОПТИМИЗАЦИЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ 2004-7 ( Контрольная работа, 7 стр. )
ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНО-СТАТИСТИЧЕСКОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ И ОПТИМИЗАЦИЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ 2004-8 ( Контрольная работа, 8 стр. )
ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНО-СТАТИСТИЧЕСКОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ И ОПТИМИЗАЦИЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ 2004-8 ( Контрольная работа, 8 стр. )

Введение 2

Термическое (вакуумное) напыление 3

Катодное напыление 5

Ионная бомбардировка 7

Ионно-плазменное напыление 9

Анодирование 11

Электрохимическое осаждение 12

ВУП-5, технические характеристики 13

Трансмиссионная электронная микроскопия 15

Заключение 17

Литература

Образцы для исследования в просвечивающем электронном микроскопе могут быть приготовлены как непосредственно из материала исследуемого объекта, так и из материала, отличного от материала объекта. В первом случае анализ электроннограмм и дифракционного контраста на изображении дает непосредственную информацию о кристаллической структуре объекта. Тонкие образцы для таких исследований готовятся с помощью следующих методик:

" получение тонких срезов на ультрамикротоме;

" утончение объектов химической полировкой или ионной бомбардировкой;

" напыление пленок - термическое испарение, катодное распыление, газотранспортные реакции и т.д.

" разбрызгивание и высушивание (для порошков и суспензий).

Тонкие пленки представляют собой слой какого-либо материала толщиной от 10 до 10000А. Они различаются по своим физическим и химическим свойствам: эпитаксиальные монокристаллические и аморфные, проводящие и диэлектрические, органические и неорганические. Под эпитаксиальной пленкой обычно понимают монокристаллический слой, выращенный на монокристаллической подложке с которой он имеет определенное кристаллографическое соответствие. Эпитаксиальные монокристаллические пленки обычно содержат дефекты, такие, как дислокации, дефекты упаковки, двойники и субструктуры. Когда верхний слой того же состава, что и подложка, его называют гомоэпитаксиальным, если же верхний слой другого состава, то он называется гетероэпитаксиальным. Аморфные тонкие пленки обладают либо структурой типа беспорядочной сетки, либо беспорядочной плотноупакованной структурой.

В данной работ

1. Технология тонких пленок. Справочник, под ред. Л. Майссела, Р. Глэнга, пер. с англ., т. 1-2, М., 1977;

2. Плазменная металлизация в вакууме, Минск, 1983;

3. Черняев В.Н., Технология производства интегральных микросхем и микроциклоров, 2 изд., М., 1987;

4. Волков С. С., Гирш В. И., Склеивание и напыление пластмасс, М., 1988;

5. Коледов Л. А., Технология и конструкция микросхем, микроциклоров и микросборок, М., 1989. Л. А. Коледов.

6. Шиммель Г., Методика электронной микроскопии, пер. с нем., М., 1972

7. http://www.chemport.ru

8. http://www.pulscen.ru/info/special/obscheeoborud/vakpumps

Примечаний нет.

2000-2024 © Copyright «DipMaster-Shop.ru»